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胡为东系列文章之十二--参数丈量中针对夹具或探

更新时间: 2019-04-30   浏览次数:

  OSLT(Open/Short/Load/Through)校准方式是尺度的校准方式,S 参数测试仪器凡是会标配有该方式,OSLT 校准方式的错误谬误是需要一整套尺度的校准件,它的接口也凡是是SMA或者是BNC 接口的,并且它需要夹具的结尾接口(夹具取被测件DUT 相毗连的接口)类型也是SMA 或者BNC 的,而绝大部门测试夹具都不具备如许的要求,若是设想嵌入式的OSLT 用于校准,除了存正在和TRL 校准雷同的问题外,还会存正在其它潜正在的误差源,如将Short,Open 视为抱负景象,将Load 视为非频次相关的。

  该方式利用起来很是便利,只需将夹具的S 参数带入到测试仪器校准阐发软件中即可实现对夹具的去嵌,可是一个夹具的S 参数往往并不容易获得,如测试时用到的探头,S 参数不只很罕见到,并且即便探头厂家有供给探头的S 参数,正在现实测试中也往往会由于毗连体例,点触标的目的等导致探头S 参数发生变化,也会影响到测试成果的切确性。

  时域Gating 校准方式是Teledyne LeCroy(力科)用于SPARQ 中的一种最新的校准手艺,也是力科最新的一项专利手艺。该方式可以或许削减上述校准方式所存正在的错误谬误,并且具有操做便利的长处,也很是适合于利用探头进行S 参数测试时对探头的校准。

  从上图4 可见,对于一个具有P 个端口的被测件DUT,将需要2P 个端口的夹具,此中P 个端口取测试仪器的P 个端口相毗连,别的P 个端口取被测件DUT 相毗连。若是晓得具有2P 个端口的夹具的S 参数,那么对夹具的去嵌将变得很是容易。如Teledyne LeCroy(力科)公司的信号完整性S 参数阐发仪中就集成了基于S 参数的夹具去嵌方式。如下图5 所示,只需将夹具所对应的:*.snp 的S 参数文件带入到图5 的界面设置中即可实现对于夹具的去嵌。可是正如前文所述,获取夹具的S 参数是环节。

  TRL(Through/Reflect/Line)校准体例也是目前业内用得比力遍及的一个校准方式,适合于校准比力复杂的传输线布局的夹具。TRL 夹具需要测试人员提前设想切确的包罗Through(曲通)、Reflect(反射)、Line(线)的夹具,TRL 夹具必必要和现实使用单板的各项参数相分歧,好比印制电板的叠层、各叠层的厚度、所用材料的介电、传输线的节制、线宽等等。而这对于两个可能是分歧时候设想和出产的分歧单板来说,节制得很是分歧是比力坚苦的。此外,夹具上的毗连器磨损也会影响到校准成果。

  对于相当多的被测试产物,如接插件、利用插槽的电板等都需要利用特地的夹具才能进行S 参数测试,这是由于这些被测件的接口凡是SMA 或者BNC 等通用接口类型的,而S 参数测试仪器如SPARQ、VNA 等仪器的毗连接口凡是都是SMA 或者BNC 等尺度类型的,因而被测件和测试仪器的毗连需要辅帮夹具。如下图1 所示为一些需要夹具才可以或许进行S 参数测试的被测件(左下脚图片为Teledyne LeCroy(力科)的信号完整性S 参数测试仪):

  别的,利用基于S 参数的校准方式、TRL 校准方式、OSLT 校准方式、方式对探头的去嵌也是S 参数测试中的别的一个难点,由于探头模子难以正在PCB 板上模仿出来。下图3 所示的Gigaprobes 是S 参数测试中常用的探头:

  夹具的利用必然会给被测件的S 参数测试成果带来影响。若是相对于被测件DUT 本身来说,夹具的影响很是小,则能够忽略,或者若是将整个系统(包罗被测件DUT 和夹具)一路进行考虑,需要的是S 参数和被测件DUT 的全体机能,那么夹具的影响也是能够不消考虑的。可是若是夹具的损耗和被测件DUT 的损耗相当,那么夹具的影响往往是不成忽略的,这时候我们就需要考虑利用一些法子来消弭夹具给测试带来的影响。

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